Милић М. Пејовић

Контакт

мејл: Ова адреса ел. поште је заштићена од спамботова. Омогућите JavaScript да бисте је видели.
тел: 381 (18) 529-324

Академска каријера

  • Изабран у звање венредни професор 2021. године на Електронском факултету у Нишу, област Микроелектроника и микросистеми
  • Докторирао 2007. године на Електротехничком факултету у Београду, област Електроника
  • Магистрирао 2003. године на Електронском факултету у Нишу, област Аутоматика
  • Дипломирао 1999. године на Електронском факултету у Нишу, област Електроника и аутоматика
Image

Изабране референце

  • Milić M. Pejović, “Deffects induced by gamma-ray irradiation and post-irradiation annealing and its influence on the threshold voltage of p-channel power VDMOS transistors”, Radiation Effects and Defects in Solids, Vol. 174, Issue 7/8, pp. 567-578, 2019, https://doi.org/10.1080/10420150.2019.1619735, M23.
  • Čedomir I. Belić, Koviljka Đ. Stanković, Milić M. Pejović and Predrag V. Osmokrović, “The influence of the magnetic field on DC and the impulse breakdown of noble gases”, Materials, Vol. 12, pp. 752, 2019, https://doi.org/10.3390/ma12050752, M21.
  • Milić M. Pejović, Momčilo M. Pejović and Koviljka Stanković, „Physico-Chemical processes induced by electrical breakdown and discharge responsible for memory effect in krypton with <10 ppm nitrogen”, Plasma Chemistry and Plasma Processing, Vol. 38, No. 2, pp. 415-428, 2018, Https://doi.org/10.10007/s11090-017-9870-2, M21.
  • Milić M. Pejović, „Processes in radiation sensitive MOSFETs during irradiation and post irradiation annealing responsible for threshold voltage shift”, Radiation Physics and Chemistry, Vol. 130, pp. 221-228, 2017, http://dx.doi.org/10.1016/j.radphyschem 2016.08.027, M21.
  • Milić M. Pejović, Dose response, radiation sensitivity and fading of p-channel MOSFETs (RADFETs) irradiated up to 50 Gy with 60Co“, Applied Radiation and Isotpoes, Vol. 104, pp. 100-105, 2015, http://dx.doi.org/10.1016/j.apradiso. 2015.06.024, M22.
  • Milić M. Pejović,  “Application of p-channel power VDMOSFET as a high radiation dose sensor”, IEEE Transaction on Nuclear Science, Vol. 62, No. 4, pp. 1905-1910, 2015, Doi 10.1109/TNS 2015.24 56211, http://www.ieee.org/publications-standards/publications/rights/index.html., M22.
  • Milić M. Pejović, „The application of a small volume neon-filled tube in overvoltage protection“, IEEE Tranaction on Plasma Science, Vol. 43, No. 4, pp. 1063-1067, 2015, ISSN 0093-3813, M23.
  • Milić M. Pejović, Nikola T. Nešić and Momčilo M. Pejović, „Kinetics of positive ions and electrically neutral active particles in afterglow in neon at low pressure“, Physics of Plasmas, American Institute of Physics, Vol. 21, 042111(8 pp), 2014, ISSN 1070-664X, M21, http://scitation.aip.org/content/aip/journal/pop/21/4/10.1063/1.4871485.
  • Milić M. Pejović, Nikola T. Nešić and Momčilo M. Pejović, „Electrical breakdown time delay in nitrogen-filled tube with small inter electrode gap“, IEEE Transaction Dielectrics and Electrical Insulation, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., Vol. 21, No. 2, pp. 612-616, 2014, ISSN 1070-9878, M22, http://ieeexplore.ieee.org/xpl/login.jsp?tp=&arnumber=6783053&url=http%3A%2F%2Fieeexplore.ieee.org%2Fiel7%2F94%2F6783027%2F06783053.pdf%3Farnumber%3D6783053.
  •  

     

Активности

  • Укупан број радова у часописима са IMPACT фактором:
  • Тренутно учешће на пројектима Национални: 1; Интернационални:
  • Остали релевантни подаци: 1. Пробој у гасовима на ниским притисцима и нека својства полупроводничких материјала (2001-2005. године). 2. Предпробојни и послепробојни процеси у гасовима на ниским притисцима и дефекти у полупроводничким материјалима изазвани јонизујућим зрачењем и електричним пољем (2006-2010. године.)

Основни подаци

Адреса: Александра Медведева 14, 18115 Ниш
Тел: +381 (18) 529-105
Факс: +381 (18) 588-399
e-mail: efinfo@elfak.ni.ac.rs
ПИБ: 100232259
Текући рачун: 840-1721666-89

Факултет на друштвеним мрежама