Ивица Ђ. Манић

Контакт

  • мејл: Ова адреса ел. поште је заштићена од спамботова. Омогућите JavaScript да бисте је видели.
  • тел: 381 (18) 529-404

Академска каријера

  • Изабран у звање редовни професор 2016. године на Електронском факултету у Нишу, област Микроелектроника и микросистеми
  • Докторирао 2006. године на Електронском факултету у Нишу, област Микроелектроника и микросистеми
  • Специјализација 1988/89, Технолошки факултет Каназава (Јапан), Материјали за електронику
  • Магистрирао 1991. године на Технолошком факултету Каназава (Јапан), област Материјали за електронику
  • Дипломирао 1985. године на Електронском факултету у Нишу, област Микроелектроника
Image

Изабране референце

  • Vojkan Davidović, Danijel Danković, Aleksandar Ilić, Ivica Manić, Snežana Golubović, Snežana Djorić-Veljković, Zoran Prijić, Aneta Prijić, Ninoslav Stojadinović, "Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors", Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 57, 2018, 044101 (10 pp.)
  • Danijel Danković, Ivica Manić, Vojkan Davidović, Aneta Prijić, Miloš Marjanović, Aleksandar Ilić, Zoran Prijić, Ninoslav Stojadinović, “On the recoverable and permanent components of NBTI in p-channel power VDMOSFETs”, IEEE Trans. Dev. Mater. Reliab., Vol. 16, No. 4, December 2016, pp. 522-531
  • Danijel Danković, Ivica Manić, Aneta Prijić, Snežana Djorić-Veljković, Vojkan Davidović, Ninoslav Stojadinović, Zoran Prijić, Snežana Golubović, “Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradation”, Semicond. Sci. Technol., Vol. 30, 2015, 105009 (9 pp.)
  • Ivica Manić, Elena Atanassova, Ninoslav Stojadinović, Dencho Spassov, Albena Paskaleva, “Hf-doped Ta2O5 stacks under constant voltage stress”, Microelectron. Engineering, Vol. 88, 2011, pp. 305-313.
  • Ivica Manić, Danijel Danković, Aneta Prijić, Vojkan Davidović, Snežana Djorić-Veljković, Snežana Golubović, Zoran Prijić, Ninoslav Stojadinović, “NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions”, Microelectron. Reliab., Vol. 51, 2011, pp. 1540-1543.
  • Ninoslav Stojadinović, Danijel Danković, Ivica Manić, Aneta Prijić, Vojkan Davidović, Snežana Djorić-Veljković, Snežana Golubović, Zoran Prijić, “Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress”, Microelectron. Reliab., Vol. 50, 2010, pp. 1278-1282
  • Ivica Manić, Danijel Danković, Snežana Djorić-Veljković, Vojkan Davidović, Snežana Golubović, Ninoslav Stojadinović, “Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs”, Microelectron. Reliab., Vol. 49, 2009, pp. 1003-1007.
  • Ivica Manić, Snežana Djorić-Veljković, Vojkan Davidović, Danijel Danković, Snežana Golubović, Ninoslav Stojadinović, “Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs”, IET Circuits, Devices & Systems, Vol. 2, 2008, pp. 213-221.
  • Ninoslav Stojadinović, Danijel Danković, Snežana Djorić-Veljković, Vojkan Davidović, Ivica Manić, Snežana Golubović, “Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs”, Microelectron. Reliab., Vol. 45, 2005, pp. 1343-1348.
  • Ninoslav Stojadinović, Ivica Manić, Snežana Djorić-Veljković, Vojkan Davidović, Snežana Golubović, Sima Dimitrijev, “Mechanisms of Positive Gate Bias Stress Induced Instabilities in Power VDMOSFETs”, Microelectron. Reliab., Vol. 41, 2001, pp. 1373-1378.

Активности

  • Укупан број радова у часописима са IMPACT фактором: 35
  • Тренутно учешће на пројектима Национални: 1; Интернационални: 1
  • Остали релевантни подаци: Истраживач на 6 домаћих пројеката финансираних од стране Министарства за науку Републике Србије и 6 међународних пројеката реализованих са Институтом за физику чврстог стања Бугарске академије наука у Софији и Институтом за микроелектронику Националног центра за научна истраживања “Demokritos” из Атине. Учесник је и у 2 Еразмус+ пројекта изградње капацитета у високом образовању, а од 2015. године обавља функцију Институционалног координатора за мобилност и руководи Еразмус+ пројектима мобилности Универзитета у Нишу.

Основни подаци

Адреса: Александра Медведева 14, 18115 Ниш
Тел: +381 (18) 529-105
Факс: +381 (18) 588-399
e-mail: efinfo@elfak.ni.ac.rs
ПИБ: 100232259
Текући рачун: 840-1721666-89

Факултет на друштвеним мрежама