Горан С. Ристић

Контакт

  • мејл: Ова адреса ел. поште је заштићена од спамботова. Омогућите JavaScript да бисте је видели.
  • тел: 381 (18) 529-329

Академска каријера

  • Изабран у звање редовни професор 2004. године на Електронском факултету у Нишу, област Примењена физика
  • Докторирао 1998. године на Електронском факултету у Нишу, област Физика полупроводника
  • Магистрирао 1994. године на Електронском факултету у Нишу, област Физика полупроводника
  • Дипломирао 1990. године на ПМФ у Нишу, област Физика
Image

Изабране референце

  • S. Ristić, M.S. Andjelković, S. Savović, "The isochronal annealing of irradiated n-channel power VDMOSFETs", Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 366, 171-178, 2016. https://doi.org/10.1016/j.nimb.2015.11.003
  • S. Ristic, M.S. Andjelkovic, A.B. Jaksic, "The behavior of fixed and switching oxide traps of RADFETs during irradiation up to high absorbed doses", Applied Radiation and Isotopes, 102, 29-34, 2015. https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2015.04.009
  • Todorović, N.D. Vasović, G.S. Ristić, "A system for gas electrical breakdown time delay measurements based on a microcontroller", Measurement Science & Technology, 23 (1) 015901 (9pp), 2012. https://doi.org/10.1088/0957-0233/23/1/015901
  • D. Vasović, G.S. Ristić, "A new microcontroller-based RADFET dosimeter reader", Radiation Measurements, 47 (4), 272-276, 2012. http://dx.doi.org/10.1016/j.radmeas.2012.01.017
  • S. Ristić, "Defect behaviors during high electric field stress of p-channel power MOSFETs", IEEE Trans. on Device and Materials Reliability, 12 (1), 94-100, 2012. https://doi.org/10.1109/TDMR.2011.2168399
  • S. Ristić, "Thermal and UV annealing of irradiated pMOS dosimetric transistors", Journal of Physics D: Applied Physics, 42 (13), 135101 (12pp), 2009. https://doi.org/10.1088/0022-3727/42/13/135101
  • S. Ristić, "Influence of ionizing radiation and hot carrier injection on metal-oxide-semiconductor transistors", Journal of Physics D: Applied Physics, Topical Review, 41, 023001 (19pp), 2008. https://doi.org/10.1088/0022-3727/41/2/023001
  • Zhao, G. Ristić, J.A. Rowlands, "X-ray imaging performance of structured cesium iodide scintillators”, Medical Physics, 31 (9), 2594-2605, 2004. https://doi.org/10.1118/1.1782676
  • M. Pejović, G.S. Ristić, J.P. Karamarković, "Electrical breakdown in low pressure gases", Journal of Physics D: Applied Physics, Topical Review, 35, R91-R103, 2002. https://doi.org/10.1088/0022-3727/35/10/201
  • S. Ristić, M. Pejović, A. Jakšić, “Modelling of kinetics of creation and passivation of interface traps in metal-oxide-semiconductor transistors during postirradiation annealing'', Journal of Applied Physics, 83 (6), 2994-3000, 1998. https://doi.org/10.1063/1.367055

Активности

  • Укупан број радова у часописима са IMPACT фактором: 69
  • Тренутно учешће на пројектима Национални: 1 ; Интернационални: 1
  • Остали релевантни подаци: Сајт лабораторије: www.apl.elfak.rs ; Списак радова: https://www.npao.ni.ac.rs/elektronski-fakultet/1756-goran-ristic

Основни подаци

Адреса: Александра Медведева 14, 18115 Ниш
Тел: +381 (18) 529-105
Факс: +381 (18) 588-399
e-mail: efinfo@elfak.ni.ac.rs
ПИБ: 100232259
Текући рачун: 840-1721666-89

Факултет на друштвеним мрежама