Биљана М. Пешић

редовни професор

mail This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.
тел 381 (18) 529-346
Biljana Pešić

Академска каријера

  • Изабранa у звање редовни професор 2006. године на Електронском факултету у Нишу, област Микроелектроника и микросистеми
  • Докторирала 1996. године на Електронском факултету у Нишу, област Микроелектроника
  • Магистрирала 1988. године на Електронском факултету у Нишу, област Микроелектроника
  • Дипломирала 1980. године на Електронском факултету у Нишу, област Електронске компоненете

Референце

  • T. Brozek, B. Pešić, A. Jakubowski, N. Stojadinović, " Breakdown Properties of Thin Oxide in Irradiated MOS Capacitors", Microelectronics and Reliability, vol. 33, pp. 649-657 (1993).
  • T. Brozek, B. Pešić, " The Impact of High-Field Stressing on C-V Characteristics of Irradiated Gate Oxides", Applied Surface Science, vol. 63, pp. 295-300 (1993).
  • T. Brozek, B. Pešić, A. Jakubowski, "Wear-out Properties of Irradiated Oxides in MOS Structures", Microelectronics Journal, vol. 24, pp. 381-387 (1993).
  • A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, D. Pantić, Z. Pavlović, “3D Simulation of Electrical and Thermal Characteristics of Electric Contacts“, Electronics, Vol. 6, No. 2, pp. 3-5 (2002).
  • B. Pešić, Lj. Vračar, N. Stojadinović, M. Pecovska-Djordjević, N. Novkovski, “Stress-Induced Leakage Currents in Thin Silicon Dioxide Films”, J. of Materials Sci.: Materials in Electronics, vol. 14, pp. 805-807 (2003).
  • A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, D. Pantić, Z. Pavlović, “Temperature and Yield Stress Characterization of Electric Contacts by 3D Numerical Simulation”, Serbian J. Electrical Eng., vol. 2, No 1, pp. 77-91 (2005).
  • Lj. Vračar, B. Pešić, N. Stojadinović, M. Pecovska-Djordjević, N. Novkovski, “High-Field Induced Gate Oxide Leakage” Proc. of 3rd Int. Conference INDEL-2000, Banja Luka, Novembar 2000 (pp. 163-165).
  • E. Jovanović, D. Pantić, B. Pešić, D. Pantić, “3D Simulation of Vertical Hall Device”, Proc. 7th International Symposium on Microelectronics Technologies and Microsystems, Sofia-Sozopol, September 2003 (pp. 138-143).
  • Lj. Vračar, B. Pešić, N. Stojadinović, “Computer as Powerful Tool in Reliability Testing of Thin Gate Dielectrics in MOS Devices”, Proc. International Conference on “Computer as Tool” - EUROCON 2005, Belgrade, November 2005 (pp. 1159-1162)..
  • A. Prijić, Z. Prijić, B. Pešić, D. Pantić, S. Ristić, “Analysis of Electrical and Thermal Characteristics of Thermal Cutoffs”, Proc. XLII International Scientific Conference on Information, Communication and Energy Systems and Technologies (ICEST 2007), Ohrid, June 2007 (pp. 827-830).

Активности

  • Укупан број радова у часописима са IMPACT фактором: 9
  • Тренутно учешће на пројектима Национални: 1/14 ; Интернационални: 1/14
  • Остали релевантни подаци

Koнтакт

Адреса: Александра Медведева 14, 18106 Ниш

Тел: +381 (18) 529-105

Факс: +381 (18) 588-399

e-mail: This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.

ПИБ: 100232259

Текући рачун: 840-1721666-89